Reliability Overview of RF MEMS Devices and Circuits

Melle, S. ; Flourens, F. ; Dubuc, D. ; Grenier, K. ; Pons, P. ; Pressecq, F. ; Kuchenbecker, J. ; Muraro, J.L. ; Bary, L. ; Plana, R. (2003) Reliability Overview of RF MEMS Devices and Circuits. In: Gallium Arsenide applications symposium. GAAS 2003, 6-10 October 2003, Munich.
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Tipologia del documento
Documento relativo ad un convegno o altro evento (Atto)
Autori
AutoreAffiliazioneORCID
Melle, S.
Flourens, F.
Dubuc, D.
Grenier, K.
Pons, P.
Pressecq, F.
Kuchenbecker, J.
Muraro, J.L.
Bary, L.
Plana, R.
Settori scientifico-disciplinari
Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
DOI
10.6092/unibo/amsacta/568
Data di deposito
17 Giu 2004
Ultima modifica
17 Feb 2016 13:56
URI
https://amsacta.unibo.it/id/eprint/568

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