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Number of documents on this level: 10.

Ottoboni, Giovanni ; Cherici, Arianna ; Marzocchi, Michele ; Chattat, Rabih (2017) Algoritimi di calcolo per gli indici PCS e MCS del questinario SF-12. DOI 10.6092/unibo/amsacta/5751.

Matteucci, Mariagiulia ; Veldkamp, Bernard P. (2009) Computer adaptive testing with empirical prior information: a Gibbs sampler approach for ability estimation. [Preprint]

Veldkamp, Bernard P. ; Matteucci, Mariagiulia (2009) Dealing with multiple criteria in test assembly. [Preprint]

Matteucci, Mariagiulia ; Stefania, Mignani (2010) Gender Differences in Performance in Mathematics at the End of Lower Secondary School: Evidence From the INVALSI Test in Emilia-Romagna (Italy). [Preprint]

Ottoboni, Giovanni ; Amici, Serena ; Iannizzi, Pamela ; Di Pucchio, Alessandra ; Vanacore, Nicola ; Chattat, Rabih (2018) Italian Revised Memory and Behavior Problems Checklist. DOI 10.6092/unibo/amsacta/5956.

Falocci, Nicola ; Gnaldi, Michela ; Matteucci, Mariagiulia ; Mignani, Stefania (2010) La Validazione Statistica di test standardizzati di profitto: principali aspetti di metodo e due casi di studio sulla valutazione degli apprendimenti nella scuola primaria. DOI 10.6092/unibo/amsacta/2875.

Matteucci, Mariagiulia ; Veldkamp, P. Bernard (2011) On the use of MCMC CAT with empirical prior information to improve the efficiency of CAT. [Preprint]

Matteucci, Mariagiulia ; Mignani, Stefania (2009) Rapporto tecnico sugli esiti della prova nazionale nell'ambito dell'Esame di Stato al termine del primo ciclo anno 2007-2008. Analisi delle risposte al test di matematica e italiano: dalle proprietà  delle domande alla valutazione degli studenti. DOI 10.6092/unibo/amsacta/2655.

Matteucci, Mariagiulia ; Mignani, Stefania ; Veldkamp, Bernard P. (2012) The use of predicted values for item parameters in item response theory models: an application in intelligence tests. [Preprint]

Veldkamp, Bernard P. ; Matteucci, Mariagiulia ; de Jong, Martijn (2012) Uncertainties in the item parameter estimates and robust automated test assembly. [Preprint]

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